|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 268 van 871 gevonden artikelen
| Titel: |
Dependence of X-ray yields on different parameters for light element matrices in thick target PIXE and use of standards for calibration in such analysis |
| Auteur: |
Khaliquzzaman, M. Lam, S.T. Sheppard, D.M. Stephens-Newsham, L.G. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research |
| Paginering: | Jaargang 216 (1983) nr. 3 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
1983 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 268 van 871 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |